塑封熱沖擊試驗箱失效現(xiàn)象

塑封熱沖擊試驗箱操作簡單，但產(chǎn)品電子元器件有時候會發(fā)生一些故障，故障遷移現(xiàn)象一般主要分為三類：離子遷移、電遷移和應(yīng)力遷移。

塑封熱沖擊試驗箱失效現(xiàn)象常態(tài)：

1、在硅片上集成有大量電子元件的集成電路芯片及其元件通過導(dǎo)線連接起來構(gòu)成電路。由于鋁和鋁合金價格便宜，加工工藝簡單，因此通常被使用為集成電路的金屬線。

2、從進行集成電路塑封工序開始，水氣便會通過環(huán)氧樹脂滲入引起鋁金屬導(dǎo)線產(chǎn)生腐蝕進而產(chǎn)生開路現(xiàn)象，成為品質(zhì)工程最為頭痛的問題。人們雖然通過各種改善包括采用不同環(huán)氧樹脂材料、改進塑封技術(shù)和提高非活性塑封膜為提高產(chǎn)品質(zhì)量進行了各種努力，但是隨著日新月異的半導(dǎo)體電子器件小型化發(fā)展，塑封鋁金屬導(dǎo)線腐蝕問題至今仍然是電子行業(yè)非常重要的技術(shù)課題。

塑封熱沖擊試驗箱功能：

1、可在預(yù)約開機時間控制中自動提前預(yù)熱、預(yù)冷待機、并可選擇起始位置，由高溫或低溫開始循環(huán)或沖擊，另具備設(shè)定循環(huán)次數(shù)及自動除霜等功能

2、具備全自動，高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作，完全由P.L.C鎖定處理，溫度控制精度高，全部采用P.I.D自動演算控制

3、出風口與回風口感知器檢知控制，風向柵門機構(gòu)切換時間為10秒內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時間為5分鐘內(nèi)完成。

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